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X射线显微镜 > Xradia Context microCT
 
 
X射线显微镜 Xradia Context microCT

蔡司Xradia Context是一款大视场、非破坏性3D X射线微米计算机断层扫描系统。凭借强大的平台和灵活的软件控制源及探测器定位,您可以在完整的三维环境中对大尺寸、重量25 kg内和高尺度样本进行成像,同样也可以对小样品进行高分辨率的成像。


  • 可以对在完整的电子元件、大型原材料样品或生物样品上获取立体三维(3D)数据。
  • 进行非破坏性失效分析,无需切割样品或工件,可识别内部缺陷。
  • 表征和量化材料中性能定义的异质性,如孔隙率、裂缝、杂质、缺陷或多相。
  • 通过非原位处理或原位样品操作进行4D进展研究
  • 可连接到蔡司关联显微技术环境,进行非破坏性3D成像来识别感兴趣的区域,以用于随后的高分辨率2D或3D电子显微镜成像的定位。


 
详细介绍
 

全情景三维成像

高像素密度探测器(六百万像素)使您能够在完整的3D环境中解析精细细节,即使在相对较大的成像体积内也是如此。 或者使用小样本最大化几何放大倍率,以识别和表征衬度和清晰度的微米级结构。快速的样品安装和校准,流程化的的采集工作流程,快速曝光时间和数据重建以及可选的自动加载器系统使Xradia Context成为高通量成像的利器,可满足广泛的3D成像和表征需求。

成熟的Xradia系列产品

Xradia Context建立在经过时间考验和备受推崇的Xradia技术之上,在系统稳定性、图像质量和可用性三方面被反复证实可靠。用户友好的Scout-and-Scan控制系统为您提供高效的工作流环境。使用Autoloader扩大已有系统,实现自动处理和多达14个样品的顺序扫描。还可以用来做4D研究以测量材料微观结构在不同条件下的变化。

可转换为X射线显微镜(XRM)

随着更高的成像需求,您的仪器也需随之更新。旨在让您受益于蔡司不断致力扩展系统及其功能性,现将Xradia Context加入了蔡司X射线成像产品组合。只有Xradia Context microCT是可以随时转换为蔡司Xradia Versa 3D X射线显微镜(XRM)的microCT,这也意味着对您投资的保障。蔡司Xradia 3DX射线显微在大工作距离进行高分辨率的成像技术(RaaD)以及先进的成像衬度为实验室X射线成像树立了新标准。

 
 

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