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蔡司双束电镜Crossbeam系列结合了高分辨率场发射扫描电镜(FE-SEM)的出色成像和分析性能,以及新一代聚焦离子束(FIB)的优异加工能力。无论是用于多用户实验平台,还是科研或工业实验室, 利用Crossbeam系列模块化的平台设计理念,您可基于自身需求随时升级仪器系统(例如使用LaserFIB进行大规模材料加工)。在加工、成像或是实现三维重构分析时,Crossbeam系列将大大提升您的聚焦离子束(FIB)应用效率。
利用低真空操作,使用可变压力模式对含有气体或带电的样品进行原位实验。通过独特的Gemini电子光学系统和镓离子FIB镜筒Ion-sculptor,实现高质量成像。
为您进行要求苛刻的材料表征并选择适合您的样品尺寸——标准尺寸或大尺寸。Gemini 2电子光学系统即使在低电压和高束流条件下亦可提供高分辨率。如需在高束流条件下获得高分辨率图像以及进行快速分析,这无疑是您的理想之选。
用于切割大量材料和制备大样品的仪器——交换舱内的飞秒激光助力原位研究,避免了舱室污染,并可配置于Crossbeam 350和550,快速找到深埋结构的入口以及制备要求苛刻的结构(如原子探针样品)。
这种用于在冷冻条件下进行TEM薄片制备和体积成像的解决方案能够实现接近原生状态的成像。关联宽场显微镜、激光共聚焦显微镜和双束电镜, 同时保持多功能双束电镜的灵活性。
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